Here's what's popular on Priz.guru

אספקטים בשיפור עמידות של פותחני בקבוקים

1. ИНДУКТИВНЫЙ метод более предпочтителен в образовательном процессе, так как, позволяет ускоренно, с помощью направляющих ЧАСТНЫХ абстрактных ситуаций, ассоциаций, вопросов и поправок преподавателя, заново переоткрывать уже известные (ОБОБЩЁННЫЕ) знания, законы в науках, а у обучаемых развивать креативность и творческий подход к решению проблем в различных сферах человеческой деятельности. Такое обучение приближено к игровой ситуации и пробуждает интерес на эмоциональном уровне, что позволяет более глубоко запоминать и осмысливать новые знания. Примером индуктивной, эвристической (эмпирической, основанной на уникальном приобретённом опыте каждого ученика при многократном использовании им метода проб и ошибок (МПиО) в решении задач любого направления), может служить методология «ВЕРОЯТНОСТНОГО ТИПА» (также подходят определения: случайная, свободная, стохастическая, …). Одно из направлений занятий «ВЕРОЯТНОСТНОГО ТИПА» по различным учебным предметам, может иметь примерно такую концепцию: 1.1. Преподаватель, для эмоционального контакта с обучаемыми, постоянно меняет роли, активно жестикулирует, перемещается: друг, слуга, диктатор, помощник, разделяющий радость успеха обучаемого - но не хвалящий его, сопереживающий, ведущий «шоу» (поиска решения задачи) - объявляющий простые правила очередного задания, конферансье – задерживающий начало «шоу» (начало решения задачи) для интриги, задающий наводящие вопросы, развивающий дальше мысль - отталкиваясь от ответа обучаемого производными вопросами, и т.д. 1.2. В каждой задаче по любому учебному предмету, объявляются простые правила «игры» и цель (промежуточная), которую необходимо достигнуть (конечная цель для обучаемых остаётся пока неизвестной). Преподаватель оценки не ставит. 1.3. Разрешено как обучаемыми, так и преподавателем, многократное угадывание, подсчёт, самопроверка, ошибки - слов, букв, цифр, знаков синтаксиса, фигур, предметов, математических действий и др. 1.4. Может быть соревнование на время исполнения задания или присвоение обучаемыми себе баллов за каждое правильно найденное - слово, букву, цифру, знак синтаксиса, фигуру, предмет, математическое действие и др. Но это не обязательно. 1.5. Когда все решения найдены, тогда, несколько раз, произвольно удаляется или искажается часть информации. Обучаемые сами, по памяти, восстанавливают искажённую или утраченную информацию. 1.6. В результате, «проявляется» истинная, КОНЕЧНАЯ, не объявленная, ЦЕЛЬ упражнения – когда обучаемые, многократно пытаясь методом проб и ошибок подобрать правильные свойства, параметры, фигуры, знаки для решение задания: 1.6.1. Случайным образом, глубоко и надолго, запоминают всю представленную информацию. 1.6.2. Случайным образом, устанавливают смысловые (семантические) связи между составными элементами представленной информации (знаний). 1.6.3. Приобретают уверенность в том, что для нахождения правильных решений, необходим этап перебора и анализа вариантов, чаще ошибочных. Т.е. «учатся на своих и чужих ошибках». Появляется уверенность в том, что многократно ошибаться и корректировать решение для достижения поставленной цели – это нормальный процесс.

The project was dedicated to production yield improvement in microchip manufacturing. The bumps are created on the top of a wafer and used for the final test of all dies. Only good dies are taken for the packaging. All dies that fail the test will be scrapped. The process yield depends on the amount of "good" and "bad" dies. It was revealed that in some cases, the time between the end of the process and the final test impacts the yield. The longer the dwelling, the more dies fail the final test. If the dwelling exceeds hundreds of hours, the amount of failed dies becomes dramatically high, which results in the scrapping of the whole wafer. The problem was analyzed and solved.

The number of particles is a critical parameter for microchip manufacturing. Each, even a very small particle, can potentially destroy a die. Therefore filters are widely used. Water is always filtered through fine filters to reduce the number of particles. Nevertheless, if the filter is too fine, it could cause a problem. This issue was investigated with the help of Functional Modeling. Possible solutions were generated using 40 Inventive Principles.

Flash heating of a wafer is widely used in microchip manufacturing. The purpose of the process is to prevent the diffusion of ions and atoms. During the flash process, a wafer breakage occurs. The project's purpose is to learn and understand the mechanism of the wafer breakage and propose the solutions to prevent the wafer breakage